Contribution à l'amélioration de la résolution en microscopie optique : Profilométrie différentielle picométrique et imagerie en champ proche - PASTEL - Thèses en ligne de ParisTech Accéder directement au contenu
Thèse Année : 1993

Contribution à l'amélioration de la résolution en microscopie optique : Profilométrie différentielle picométrique et imagerie en champ proche

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Philippe Gleyzes
  • Fonction : Auteur
Institut Langevin - Ondes et Images (UMR7587)

Résumé

Résumé => Voir Pdf (2ème pièce jointe), pages 121-123
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Mots clés

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Domaines

Optique [physics.optics]
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Citer

Philippe Gleyzes. Contribution à l'amélioration de la résolution en microscopie optique : Profilométrie différentielle picométrique et imagerie en champ proche. Optique [physics.optics]. Université Paris Sud - Paris XI, 1993. Français. ⟨NNT : ⟩. ⟨pastel-00550696⟩

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