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Theses
Contribution à l'amélioration de la résolution en microscopie optique : Profilométrie différentielle picométrique et imagerie en champ proche
Contribution à l'amélioration de la résolution en microscopie optique : Profilométrie différentielle picométrique et imagerie en champ proche
Résumé : Résumé => Voir Pdf (2ème pièce jointe), pages 121-123
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Non disponibles
https://pastel.archives-ouvertes.fr/pastel-00550696
Contributor : Daniel Swift Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Wednesday, December 29, 2010 - 3:20:26 PM
Last modification on : Sunday, June 26, 2022 - 2:18:28 AM
Long-term archiving on: : Wednesday, March 30, 2011 - 3:47:04 AM
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