Microanalyse selective en rayons x au voisinage d'un seuil d'absorption : comment obtenir des resultats quantitatifs grand champ par microscopie de contact x.

Résumé : Comparaison, pour divers systemes de formation d'images x, des parametres tels que resolution des images, champ utilisable, flux disponible. Choix de la microscopie de contact, naturellement adaptee au rayonnement synchrotron. Principes de la microanalyse d'absorption x et limitations tant theoriques que pratiques; description de l'instrumentation. Obtention de resultats quantitatifs sur des echantillons tests de coupes de nodules oceaniques polymetalliques, en utilisant en particulier le traitement numerique des images .
Document type :
Theses
Complete list of metadatas

https://pastel.archives-ouvertes.fr/pastel-00713896
Contributor : Marion Avignon <>
Submitted on : Tuesday, July 3, 2012 - 9:04:34 AM
Last modification on : Thursday, January 11, 2018 - 6:14:30 AM
Long-term archiving on : Thursday, October 4, 2012 - 2:24:17 AM

Identifiers

  • HAL Id : pastel-00713896, version 1

Collections

Citation

Emmanuel Bigler. Microanalyse selective en rayons x au voisinage d'un seuil d'absorption : comment obtenir des resultats quantitatifs grand champ par microscopie de contact x.. Optique [physics.optics]. Université Paris Sud - Paris XI, 1981. Français. ⟨pastel-00713896⟩

Share

Metrics

Record views

351

Files downloads

174