Etude des propriétés photoréfractives des oxydes de bismuth silicium et germanium en régime d'excitation nanoseconde : photoconduction, holographie dynamique, couplage d'onde - PASTEL - Thèses en ligne de ParisTech Accéder directement au contenu
Thèse Année : 1984

Photorefractive properties of bismuth silicium and germanium oxyde under nanosecond excitation: photoconduction, holography, beam coupling.

Etude des propriétés photoréfractives des oxydes de bismuth silicium et germanium en régime d'excitation nanoseconde : photoconduction, holographie dynamique, couplage d'onde

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Citer

Gilles Le Saux. Etude des propriétés photoréfractives des oxydes de bismuth silicium et germanium en régime d'excitation nanoseconde : photoconduction, holographie dynamique, couplage d'onde. Optique [physics.optics]. Université Paris Sud - Paris XI, 1984. Français. ⟨NNT : ⟩. ⟨pastel-00716163⟩
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