Skip to Main content Skip to Navigation
Theses

Robust design of deep-submicron digital circuits

Résumé : Avec l'augmentation de la probabilité de fautes dans les circuits numériques, les systèmes développés pour les environnements critiques comme les centrales nucléaires, les avions et les applications spatiales doivent être certifies selon des normes industrielles. Cette thèse est un résultat d'une cooperation CIFRE entre l'entreprise Électricité de France (EDF) R&D et Télécom Paristech. EDF est l'un des plus gros producteurs d'énergie au monde et possède de nombreuses centrales nucléaires. Les systèmes de contrôle-commande utilisé dans les centrales sont basés sur des dispositifs électroniques, qui doivent être certifiés selon des normes industrielles comme la CEI 62566, la CEI 60987 et la CEI 61513 à cause de la criticité de l'environnement nucléaire. En particulier, l'utilisation des dispositifs programmables comme les FPGAs peut être considérée comme un défi du fait que la fonctionnalité du dispositif est définie par le concepteur seulement après sa conception physique. Le travail présenté dans ce mémoire porte sur la conception de nouvelles méthodes d'analyse de la fiabilité aussi bien que des méthodes d'amélioration de la fiabilité d'un circuit numérique.
Document type :
Theses
Complete list of metadatas

Cited literature [165 references]  Display  Hide  Download

https://pastel.archives-ouvertes.fr/pastel-00998731
Contributor : Abes Star :  Contact
Submitted on : Monday, June 2, 2014 - 3:52:08 PM
Last modification on : Friday, July 31, 2020 - 10:44:07 AM
Document(s) archivé(s) le : Tuesday, September 2, 2014 - 12:40:12 PM

File

these_Goncalves_-_V2.pdf
Version validated by the jury (STAR)

Identifiers

  • HAL Id : pastel-00998731, version 1

Collections

Citation

Gutemberg Gonçalves dos Santos Junior. Robust design of deep-submicron digital circuits. Other. Télécom ParisTech, 2012. English. ⟨NNT : 2012ENST0039⟩. ⟨pastel-00998731⟩

Share