Reliability of analog-to-digital Sigma-Delta converters

Résumé : Ce travail de thèse a porté sur des problèmes de fiabilité de circuits intégrés en technologie CMOS 65 nm, en particulier sur la conception en vue de la fiabilité, la simulation et l'amélioration de la fiabilité. Les mécanismes dominants de vieillissement HCI et NBTI ainsi que la variation du processus ont été étudiés et évalués quantitativement au niveau du circuit et au niveau du système. Ces méthodes ont été appliquées aux modulateurs Sigma-Delta afin de déterminer la fiabilité de ce type de composant qui est très utilisé.
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Thèse
Electronics. Télécom ParisTech, 2013. English. 〈NNT : 2013ENST0046〉
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Contributeur : Abes Star <>
Soumis le : mardi 26 avril 2016 - 14:50:07
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:23:39
Document(s) archivé(s) le : mercredi 27 juillet 2016 - 14:30:14

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Hao Cai. Reliability of analog-to-digital Sigma-Delta converters. Electronics. Télécom ParisTech, 2013. English. 〈NNT : 2013ENST0046〉. 〈tel-01307376〉

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